| 型号：X’Pert PRO MPD 厂商：荷兰 PANalytical V.B. 启用时间：2005.3 放置地点：新能源大楼1楼 联系人及电话：张少鸿 020-37246206 主要功能： 常规角度（5 ～160°）及小角度（0.5～5°）常温物相扫描、程序变温（-193℃～450℃）中低温物相扫描、程序变温（室温～1200℃）高温物相扫描；薄膜物相扫描和纳米多层膜厚度分析；纳米颗粒度分布分析。 主要配置及技术指标： 1.标准分辨率测角仪（半径：240mm，2θ角范围：-0.5～160°，最小步长：0.001°，最大步长：1.27 °）； 2.陶瓷（Cu靶）X光管 (最大功率：2.2kW，最大管压：60kV，最大电流：55mA)； 3.X’Celerator超能探测器和正比探测器； 4.常温扁平固体或粉末水平样品台； 5.中、低温样品台（Anton Paar TTK 450,温控范围:-193～450℃）； 6.高温样品台（Anton Paar HTK 1200N,温控范围:室温～1200℃）； 7.点焦和线焦光路与平行光路； 8.小角度散射（SAXS）。 应用范围： 广泛适用于固体粉末和薄膜样品的组成物相分析、薄膜厚度分析、纳米颗粒度分布分析。应用范围：水合物、催化剂、太阳能材料、有机能源材料、环境能源材料、生物质材料、固体废弃物等各种材料、薄膜和矿物样品分析表征。 | 
